Oscillatory behaviour of the interlayer coupling with the thickness of the Cu cap layer in Co/Cu(100)

J.J. de Vries, A.A.P. Schudelaro, R. Jungblut, W.J.M. de Jonge

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftCongresartikelpeer review

5 Citaten (Scopus)

Samenvatting

The dependence of the exchange coupling on the thickness of the Cu cap layer in a double wedged MBE grown Co/Cu(100) sample has been studied. The strength of four antiferromagnetic maxima oscillates with the cap layer thickness, consistent with Bruno's reflection model. From this model the relative phases of the oscillations can be explained.

Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)257-258
Aantal pagina's2
TijdschriftJournal of Magnetism and Magnetic Materials
Volume156
Nummer van het tijdschrift1-3
DOI's
StatusGepubliceerd - 1 jan. 1996
Evenement1995 2nd International Symposium on Metallic Multilayers, MML - Cambridge, UK
Duur: 11 sep. 199514 sep. 1995

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Oscillatory behaviour of the interlayer coupling with the thickness of the Cu cap layer in Co/Cu(100)'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit