One‐step deposition of nano‐to‐micron‐scalable, high‐quality digital image correlation patterns for high‐strain in‐situ multi‐microscopy testing

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

45 Citaten (Scopus)
275 Downloads (Pure)

Zoekresultaten