One‐step deposition of nano‐to‐micron‐scalable, high‐quality digital image correlation patterns for high‐strain in‐situ multi‐microscopy testing

Johan Hoefnagels (Corresponding author), Marc van Maris, Tijmen Vermeij

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review

46 Citaten (Scopus)

275 Downloads (Pure)

1 resultaten
- Titel(aflopend)

Multiscale Lab
Hoefnagels, J. P. M. (Manager)
Mechanical Engineering
Uitrusting/faciliteit: Onderzoekslaboratorium