On-wafer time-dependent high reproducibility nano-force tensile testing.

L.I.J.C. Bergers, J.P.M. Hoefnagels, M.G.D. Geers

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

12 Citaten (Scopus)
121 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)495306/1-1/17
Aantal pagina's18
TijdschriftJournal of Physics D: Applied Physics
Volume47
Nummer van het tijdschrift49
DOI's
StatusGepubliceerd - 2014

Citeer dit