On the reuse of read and write assist circuits to improve test efficiency in low-power SRAMs

Leonardo Bonet Zordan, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri, Arnaud Virazel, Nabil Badereddine

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

2 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'On the reuse of read and write assist circuits to improve test efficiency in low-power SRAMs'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering

Computer Science

Material Science