On the oxidation mechanism of microcrystalline silicon thin films studied by Fourier transform infrared spectroscopy

A.C. Bronneberg, A.H.M. Smets, M. Creatore, M.C.M. Sanden, van de

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

28 Citaten (Scopus)
2 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'On the oxidation mechanism of microcrystalline silicon thin films studied by Fourier transform infrared spectroscopy'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Material Science

Engineering