On Electrical Fault Diagnosis in Full-Scan Circuits

S.C. Hora, W. Beverloo, M. Lousberg, M.T.M. Segers

    Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review

    Originele taal-2Engels
    TitelProceedings International Workshop on Defect Based Testing, 2001
    Pagina's17-22
    StatusGepubliceerd - 2001

    Citeer dit