Neural networks applied to inspection tasks : measuring the quality of prints on industrial products

J.W. Stap, Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT)

Onderzoeksoutput: ScriptiePd Eng Thesis

Originele taal-2Engels
KwalificatieDoctor in de Filosofie
Toekennende instantie
Begeleider(s)/adviseur
  • de Hegt, J.A. (Hans), Begeleider
  • Lier, van, A., Externe begeleider, Externe Persoon
Datum van toekenning1 jan 1995
Plaats van publicatieEindhoven
Uitgever
Gedrukte ISBN's90-5282-430-4
StatusGepubliceerd - 1995

Bibliografische nota

Eindverslag

Citeer dit

Stap, J. W., & Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT) (1995). Neural networks applied to inspection tasks : measuring the quality of prints on industrial products. Eindhoven: Technische Universiteit Eindhoven.