Nanoelectronic coupled problem solutions: uncertainty quantification of RFIC interference

P. Putek, R. Janssen, J. Niehof, E.J.W. ter Maten, R. Pulch, B. Tasic, M. Günther

Onderzoeksoutput: Boek/rapportRapportAcademic

98 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijTechnische Universiteit Eindhoven
Aantal pagina's7
StatusGepubliceerd - okt 2016

Publicatie series

NaamCASA-report
Volume1622
ISSN van geprinte versie0926-4507

Citeer dit