| Originele taal-2 | Engels |
|---|---|
| Titel | Proceedings of the IEEE Int. Mixed signal Test Workshop, Seville, June 2003 |
| Pagina's | 3-6 |
| Status | Gepubliceerd - 2003 |
Multi-Vdd Testing of Analog Circuits
J. Pineda de Gyvez, G. Gronthoud, R. Amine
Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review