Monte Carlo simulation of electrons in strained Si1-xGex layers

T.F. Vijverberg, Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT)

Onderzoeksoutput: ScriptiePd Eng Thesis

Originele taal-2Engels
KwalificatieDoctor in de Filosofie
Toekennende instantie
Begeleider(s)/adviseur
  • van de Roer, Theo, Begeleider
  • Widdershoven, F.P., Begeleider
  • Kaufmann, Leon, Begeleider
Datum van toekenning1 jan 1995
Plaats van publicatieEindhoven
Uitgever
Gedrukte ISBN's90-5282-481-9
StatusGepubliceerd - 1995

Bibliografische nota

Eindverslag.

Citeer dit

Vijverberg, T. F., & Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Information and Communication Technology (ICT) (1995). Monte Carlo simulation of electrons in strained Si1-xGex layers. Eindhoven: Eindhoven University of Technology.