Monitoring a single micrometer size particle by angle resolved light scattering

W.W. Stoffels, E. Stoffels - Adamowicz, G.H.P.M. Swinkels, G.M.W. Kroesen

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Samenvatting

No abstract
Originele taal-2Engels
TitelBook of Papers Frontiers in Low Temperature Plasma Diagnostics III
RedacteurenCh. Hollenstein
Plaats van productieLausanne
UitgeverijCentre de Recherches en Physique des Plasmas
Pagina's195-198
StatusGepubliceerd - 1999
EvenementFrontiers in Low Temperature Plasma Diagnostics III, February 15-19, 1999, Saillon, Switzerland - Saillon, Zwitserland
Duur: 15 feb. 199919 feb. 1999

Workshop

WorkshopFrontiers in Low Temperature Plasma Diagnostics III, February 15-19, 1999, Saillon, Switzerland
Land/RegioZwitserland
StadSaillon
Periode15/02/9919/02/99
AnderWorkshop on Frontiers in Low Temperature Plasma Diagnostics III, Saillon, Zwitserland

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Monitoring a single micrometer size particle by angle resolved light scattering'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit