Model driven testing based on test history

I. Corro Ramos, A. Di Bucchianico, L. Hakobyan, K.M. Hee, van

Onderzoeksoutput: Boek/rapport › Rapport › Academic

139 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijTechnische Universiteit Eindhoven
Aantal pagina's17
StatusGepubliceerd - 2007

Publicatie series

NaamComputer science reports
Volume0725
ISSN van geprinte versie0926-4515

Toegang tot document

  • 632483Definitieve gepubliceerde versie, 300 KB

    Citeer dit