Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Model-driven engineering for litho scanners

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan congres › Other › Academic

Originele taal-2Engels
StatusGepubliceerd - 2012
Evenementconference; Invited presentation at ICTDelta 2012; 2012-10-24; 2012-10-24 -
Duur: 24 okt 2012 → 24 okt 2012

Congres

Congresconference; Invited presentation at ICTDelta 2012; 2012-10-24; 2012-10-24
Periode24/10/12 → 24/10/12
AnderInvited presentation at ICTDelta 2012

Citeer dit