Model Checker Aided Design of a Controller for a Wafer Scanner

M. Hendriks, N.J.M. Nieuwelaar, van den, F.W. Vaandrager

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

12 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Model Checker Aided Design of a Controller for a Wafer Scanner'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Computer Science