Minimizing stand-by leakage power in static CMOS circuits.

S.R. Naidu, E.T.A.F. Jacobs

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

25 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelProc. of the DATE conference 2001
Pagina's370-376
StatusGepubliceerd - 2001
Evenement4th Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 2001) - Munich, Duitsland
Duur: 12 mrt 200116 mrt 2001
Congresnummer: 4

Congres

Congres4th Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 2001)
Verkorte titelDATE 2001
LandDuitsland
StadMunich
Periode12/03/0116/03/01
AnderDATE conference 2001, Munchen, Germany

Citeer dit