Microwave-behaviour comparison of bias-probes for on-wafer testing of MMICs and OEICs

J.J.M. Kwaspen, H.C. Heyker

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProc. 1997 IEEE/LEOS Benelux Chapter Symposium
Pagina's217-220
StatusGepubliceerd - 1997
Evenement2nd Annual Symposium of the IEEE/LEOS Benelux Chapter - Eindhoven, Nederland
Duur: 26 nov 199726 nov 1997

Congres

Congres2nd Annual Symposium of the IEEE/LEOS Benelux Chapter
Land/RegioNederland
StadEindhoven
Periode26/11/9726/11/97
AnderProc. 1997 IEEE/LEOS Benelux Chapter Symposium, Eindhoven, Netherlands, 26 November 1997

Citeer dit