| Originele taal-2 | Engels |
|---|---|
| Titel | Proceedings of 22nd Advanced Metallization Conference |
| Plaats van productie | United States, Colorado Springs, Colorado |
| Status | Gepubliceerd - 2005 |
Mechanical failure prediction of copper/low-k dielectric interconnects using cohesive zone modeling
B.A.E. Hal, van, R.H.J. Peerlings, G.Q. Zhang
Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic › peer review