Local defect correction with slanting grids

Onderzoeksoutput: Boek/rapportRapportAcademic

72 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijTechnische Universiteit Eindhoven
Aantal pagina's18
StatusGepubliceerd - 2002

Publicatie series

NaamRANA : reports on applied and numerical analysis
Volume0211
ISSN van geprinte versie0926-4507

Citeer dit

Graziadei, M. V., Mattheij, R. M. M., & Thije Boonkkamp, ten, J. H. M. (2002). Local defect correction with slanting grids. (RANA : reports on applied and numerical analysis; Vol. 0211). Eindhoven: Technische Universiteit Eindhoven.