Layout verification for fault and yield analysis

J. Pineda de Gyvez, J.A.G. Jess

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the 2nd Symposium on Design Methodology(PRORISC), April, 1990
Pagina's89-98
StatusGepubliceerd - 1990

Citeer dit