Layout-driven SOC test architecture design for test time and wire length minimization

S.K. Goel, E.J. Marinissen

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureHoofdstukAcademicpeer review

31 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Layout-driven SOC test architecture design for test time and wire length minimization'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen