Langmuir probe measurements in an expanding magnetized plasma

G.J.H. Brussaard, M. Steen, van der, M.H.M. Carrère, M.C.M. Sanden, van de, D.C. Schram

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

34 Citaten (Scopus)
61 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
TitelPSE : Plasma surface engineering : 5th international conference, Garmisch-Partenkrichen, September 9-13, 1996, abstracts
Pagina's285
StatusGepubliceerd - 1996

Citeer dit

Brussaard, G. J. H., Steen, van der, M., Carrère, M. H. M., Sanden, van de, M. C. M., & Schram, D. C. (1996). Langmuir probe measurements in an expanding magnetized plasma. In PSE : Plasma surface engineering : 5th international conference, Garmisch-Partenkrichen, September 9-13, 1996, abstracts (blz. 285)