Intra-die leakage current behavior of digital CMOS circuits: a threshold voltage mismatch perspective,

J. Pineda de Gyvez, H. Tuinhout

Onderzoeksoutput: Boek/rapportRapportAcademic

Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijPhilips Research Laboratories
StatusGepubliceerd - 2002

Publicatie series

NaamNatLab Technical Note
Volume058

Citeer dit