Influence of the SiO2 interlayer thickness on the density and polarity of charges in Si/SiO2/Al2O3 stacks as studied by optical second-harmonic generation

N.M. Terlinden, G. Dingemans, V. Vandalon, R.H.E.C. Bosch, W.M.M. Kessels

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelpeer review

35 Citaten (Scopus)
238 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Influence of the SiO2 interlayer thickness on the density and polarity of charges in Si/SiO2/Al2O3 stacks as studied by optical second-harmonic generation'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Fysica en Astronomie