Vingerafdruk
Duik in de onderzoeksthema's van 'Industrial application of atom probe tomography to semiconductor devices'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.- Sorteer per
- Gewicht
- Alfabetische volgorde
Industrial application of atom probe tomography to semiconductor devices
A.D. Giddings, S. Koelling, Y. Shimizu, R. Estivill, K. Inoue, W. Vandervorst, W.K. Yeoh
Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Tijdschriftartikel › Academic › peer review
18
Citaten
(Scopus)
4
Downloads
(Pure)