In-situ X-ray diffraction analysis of the crystallisation of a-SI: H films deposited by the expanding thermal plasma technique

F. Law, B. Hoex, J. Wang, J. Luther, K. Sharma, M. Creatore, M.C.M. van de Sanden

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'In-situ X-ray diffraction analysis of the crystallisation of a-SI: H films deposited by the expanding thermal plasma technique'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen