In-situ Lliquid phase electron microscopy of beam-sensitive materials

Hanglong Wu, Alessandro Ianiro, Mark M.J. van Rijt, A.C.C. (Catarina) Esteves, Remco Tuinier, Heiner Friedrich, Nico A.J.M. Sommerdijk, J.P. Patterson

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelProceedings of CISCEM 2018 - the 4th Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy
UitgeverijCambridge University Press
Pagina's66-64
Aantal pagina's2
DOI's
StatusGepubliceerd - 7 feb 2018
Evenement4th Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy - Saarbrücken, Duitsland
Duur: 10 okt 201812 okt 2018

Publicatie series

NaamMicroscopy and microanalysis
Nummer1
Volume25
ISSN van geprinte versie1431-9276
ISSN van elektronische versie1435-8115

Congres

Congres4th Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy
LandDuitsland
StadSaarbrücken
Periode10/10/1812/10/18

Citeer dit