In-depth profiling with electron-probe microanalyzer

G.F. Bastin, J.M. Dijkstra, H.J.M. Heijligers

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Samenvatting

No abstract.
Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the 50th Annual Meeting of the Electron Microscopy Society of America held jointly with the 27th Annual Meeting of the Microbeam Analysis Society and the 19th Annual Meeting of the Microscopical Society of Canada/Société de Microscopie du Canada
RedacteurenG.J. Bailey, J. Bentley, J.A. Small
Plaats van productieSan Francisco
UitgeverijSan Francisco Press
Pagina's1648-1649
StatusGepubliceerd - 1992

Vingerafdruk Duik in de onderzoeksthema's van 'In-depth profiling with electron-probe microanalyzer'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit