Improved correlation measurements using voltage and transimpedance amplifiers in low-frequency noise characterization of bipolar transistors

S.P.O. Bruce, L.K.J. Vandamme, A. Rydberg

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

8 Citaten (Scopus)

Samenvatting

A method is presented to improve accuracy in low-frequency noise characterization of bipolar transistors by using both a voltage amplifier and transimpedance amplifiers
Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)1772-1773
Aantal pagina's2
TijdschriftIEEE Transactions on Electron Devices
Volume47
Nummer van het tijdschrift9
DOI's
StatusGepubliceerd - 2000

    Vingerafdruk

Citeer dit