Implementation and evaluation of a combined test-error correction procedure for memories with defects

A.J. Vinck, J. Pineda de Gyvez, K.A. Post

Onderzoeksoutput: Boek/rapportRapportAcademic

36 Downloads (Pure)
Originele taal-2Engels
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijTechnische Universiteit Eindhoven
Aantal pagina's22
StatusGepubliceerd - 1987

Publicatie series

NaamEUT report. E, Fac. of Electrical Engineering
Volume87-E-169
ISSN van geprinte versie0929-8533

Citeer dit