Impact of etch stop layer on negative bias illumination stress of amorphous indium gallium zinc oxide transistors

A. Bhoolokam, M. Nag, A. Chasin, S. Steudel, J. Genoe, G. Gelinck, G. Groeseneken, P. Heremans

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

2 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Impact of etch stop layer on negative bias illumination stress of amorphous indium gallium zinc oxide transistors'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen