Image reconstruction of an electrical capacitance tomography system using an artificial neural network

T.D. Sun, R.F. Mudde, J.C. Schouten, B. Scarlett, C.M. Bleek, van den

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

18 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelFirst World Congress on Industrial Process Tomography, Buxton, Greater Manchester, April 14-17, 1999
Pagina's174-180
StatusGepubliceerd - 1999

Citeer dit