Identifying bottlenecks in manufacturing systems using stochastic criticality analysis

J.P. Nogueira Bastos, L.J. van der Sanden, O. Donk, J.P.M. Voeten, S. Stuijk, R.R.H. Schiffelers, H. Corporaal

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)
1 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Identifying bottlenecks in manufacturing systems using stochastic criticality analysis'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Computer Science