Identification and visualization of robust-control-relevant model sets with application to an industrial wafer stage

T.A.E. Oomen, S.J. Quist, R.M.A. Herpen, van, O.H. Bosgra

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

14 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the 49th IEEE Conference on Decision and Control (CDC 2010), 15-17 December 2010, Atlanta, GA, USA
Plaats van productiePiscataway
UitgeverijInstitute of Electrical and Electronics Engineers
Pagina's5530-5535-
DOI's
StatusGepubliceerd - 2010
Evenement49th IEEE Conference on Decision and Control (CDC 2010) - Atlanta, Verenigde Staten van Amerika
Duur: 15 dec. 201017 dec. 2010
Congresnummer: 49

Congres

Congres49th IEEE Conference on Decision and Control (CDC 2010)
Verkorte titelCDC 2010
Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
StadAtlanta
Periode15/12/1017/12/10
Ander49th IEEE Conference on Decision and Control

Citeer dit