High-accuracy CMM metrology for micro systems

E.J.C. Bos, F.L.M. Delbressine, H. Haitjema

    Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

    18 Citaten (Scopus)
    1 Downloads (Pure)
    Originele taal-2Engels
    Titel8th International Symposium on measurement and quality control in production, october 12th - 15th, 2004, Erlangen, Germany
    Plaats van productieS.l.
    UitgeverijVDI/VDE-Gesellschaft
    Aantal pagina's8
    StatusGepubliceerd - 2004

    Citeer dit