Fracture and delamination in microelectronic devices

L.J. Ernst, W.D. van Driel, O. Sluis, van der, A. Corigliano, A.A.O. Tay, N. Iwamoto, M.M.F. Yuen

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureHoofdstukAcademic

Originele taal-2Engels
TitelSmart Systems Integration and Reliability (honorary volume on the occasion of Herbert Reichel’s 65th birthday)
Plaats van productieDresden, Germany
UitgeverijGoldenbogen Verlag
Pagina's634-663
ISBN van geprinte versie978-3-932434-77-8
StatusGepubliceerd - 2010

Citeer dit