Failure prediction of IC}interconnect structures using cohesive zone modelling

B.A.E. Hal, van, R.H.J. Peerlings, M.G.D. Geers, G.Q. Zhang

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelFracture of Nano and Engineering Materials and Structures
Plaats van productieGreece, Alexandroupolis
Pagina'son-CDROM
StatusGepubliceerd - 2006

Citeer dit