Extraction and modelling of self-heating and mutual thermal coupling impedance of bipolar transistors

N. Nenadovic, S. Mijalkovic, L.K. Nanver, L.K.J. Vandamme, V. Alessandro, d', H. Schellevis, J.W. Slotboom

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

55 Citaten (Scopus)
527 Downloads (Pure)

Samenvatting

A measurement system comprised of an ultra-low-distortion function generator, lock-in amplifier, and semiconductor parameter analyzer is used for sensitive extraction of the small-signal thermal impedance network of bipolar devices and circuits. The extraction procedure is demonstrated through measurements on several silicon-on-glass NPN test structures. Behavioral modeling of the mutual thermal coupling obtained by fitting a multipole rational complex function to measured data is presented.
Originele taal-2Engels
Pagina's (van-tot)1764-1772
Aantal pagina's9
TijdschriftIEEE Journal of Solid-State Circuits
Volume39
Nummer van het tijdschrift10
DOI's
StatusGepubliceerd - 2004

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Extraction and modelling of self-heating and mutual thermal coupling impedance of bipolar transistors'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit