Extending the fluidized bed monitoring method by using multiple references and multiple signals

J.R. Ommen, van, J.C. Schouten, M.O. Coppens, W. Lin, K. Dam-Johnson, C.M. Bleek, van den

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Originele taal-2Engels
Titelthe Fourth Int. Particle Technology Forum
RedacteurenF. Shi, G.E. Klinzing
Plaats van productieLos Angeles USA
UitgeverijAmerican Institute of Chemical Engineers (AIChE)
ISBN van geprinte versie0-8169-9896-5
StatusGepubliceerd - 2000
Evenement2000 AIChE Annual Meeting - Los Angeles, Verenigde Staten van Amerika
Duur: 12 nov. 200017 nov. 2000

Congres

Congres2000 AIChE Annual Meeting
Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
StadLos Angeles
Periode12/11/0017/11/00
AnderAIChE 2000 Annual Meeting

Citeer dit