Doorgaan naar hoofdnavigatie Doorgaan naar zoeken Ga verder naar hoofdinhoud

Exploring extreme beam regimes for single-shot femtosecond electron diffraction

  • T. Oudheusden, van

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Samenvatting

No Abstract
Originele taal-2Engels
Titel22nd Symposium Plasma Physics & Radiation Technology, 9-10 March 2010, Lunteren, The Netherlands
Pagina's09-1/1
StatusGepubliceerd - 2010
Evenement22th Symposium Plasma Physics & Radiation Technology, CongresHotel De Werelt, Lunteren, The Netherlands - Lunteren, Nederland
Duur: 9 mrt. 201010 mrt. 2010

Congres

Congres22th Symposium Plasma Physics & Radiation Technology, CongresHotel De Werelt, Lunteren, The Netherlands
Land/RegioNederland
StadLunteren
Periode9/03/1010/03/10
Ander22nd Symposium Plasma Physics & Radiation Technology, Lunteren, The Netherlands

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Exploring extreme beam regimes for single-shot femtosecond electron diffraction'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Citeer dit