Exciton dynamics in ultrathin InAs/GaAs quantum-wells

J. Brübach, J.E.M. Haverkort, J.H. Wolter, P.D. Wang, N.N. Ledentsov, C.M. Sotomayor Torres

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

1 Citaat (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelDiagnostic techniques for semiconductor materials processing II : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A
RedacteurenS.W. Pang
UitgeverijMaterials Research Society
Pagina's283-288
ISBN van geprinte versie1-558-99309-6
DOI's
StatusGepubliceerd - 1996
EvenementDiagnostic Techniques for Semiconductor Materials Processing II, Symposium held at the 1995 MRS Fall Meeting 1995 - Boston, Verenigde Staten van Amerika
Duur: 27 nov 199530 nov 1995

Publicatie series

NaamMaterials Research Society Symposium Proceedings
Volume406
ISSN van geprinte versie0272-9172

Congres

CongresDiagnostic Techniques for Semiconductor Materials Processing II, Symposium held at the 1995 MRS Fall Meeting 1995
LandVerenigde Staten van Amerika
StadBoston
Periode27/11/9530/11/95
AnderMRS Fall Meeting ; 1995 (Boston, Mass.) : 1995.11.27-30

Citeer dit