Originele taal-2 | Engels |
---|---|
Titel | Proceedings 50th Annual meeting |
Plaats van productie | Espoo & Helsinki, Finland |
Uitgeverij | Scandinavian Society |
Pagina's | 3-4 |
Status | Gepubliceerd - 1998 |
Electron probe microanalysis of thin (>1 nm) films
G.F. Bastin, J.M. Dijkstra, H.J.M. Heijligers
Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic