Electron probe microanalysis of thin (>1 nm) films

G.F. Bastin, J.M. Dijkstra, H.J.M. Heijligers

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

Originele taal-2Engels
TitelProceedings 50th Annual meeting
Plaats van productieEspoo & Helsinki, Finland
UitgeverijScandinavian Society
Pagina's3-4
StatusGepubliceerd - 1998

Citeer dit