| Originele taal-2 | Engels |
|---|---|
| Titel | Proceedings 50th Annual meeting |
| Plaats van productie | Espoo & Helsinki, Finland |
| Uitgeverij | Scandinavian Society |
| Pagina's | 3-4 |
| Status | Gepubliceerd - 1998 |
Electron probe microanalysis of thin (>1 nm) films
G.F. Bastin, J.M. Dijkstra, H.J.M. Heijligers
Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/Congresprocedure › Conferentiebijdrage › Academic