Efficient damage sensitivity analysis in advanced Cu/Low-k bond pad structures using area release energy

O. Sluis, van der, R.A.B. Engelen, W.D. Driel, van, M.A.J. Gils, van, R.B.R. Silfhout, van

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Efficient damage sensitivity analysis in advanced Cu/Low-k bond pad structures using area release energy'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering