Effects of defects in UML models

C.F.J. Lange, M.R.V. Chaudron

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademic

45 Citaten (Scopus)
Originele taal-2Engels
TitelProceedings of the 3rd BENEVOL Workshop (Eindhoven, The Netherlands, May 26-27, 2005)
RedacteurenC.F.J. Lange, M.R.V. Chaudron, T. Tourwé
Plaats van productieEindhoven
UitgeverijTechnische Universiteit Eindhoven
Pagina's23-36
StatusGepubliceerd - 2006

Publicatie series

NaamComputer Science Reports
Volume06-01
ISSN van geprinte versie0926-4515

Citeer dit