Originele taal-2 | Engels |
---|---|
Tijdschrift | ECS Transactions |
Volume | 19 |
Nummer van het tijdschrift | 1 |
Status | Gepubliceerd - 1 dec. 2009 |
Evenement | International Symposium on Advanced Gate Stack, Source/Drain and Channel Engineering for Si-based CMOS: New Materials, Processes and Equipment - 215th ECS Meeting - San Francisco, CA, Verenigde Staten van Amerika Duur: 24 mei 2009 → 29 mei 2009 |
ECS Transactions: preface
V. Narayanan, F. Roozeboom, D.L. Kwong, H. Iwai, E.P. Gusev, P.J. Timans
Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschrift › Editorial › Academic › peer review