DX-Centers in Silicon δ-Doped GaAs and AlxGa1-xAs?

P.M. Koenraad, W. Lange, de, F.A.P. Blom, M.R. Leijs, J.A.A.J. Perenboom, J. Singleton, W.C. Vleuten, van der, J.H. Wolter

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelShallow Impurities in Semiconductors IV
Plaats van productieAedermannsdorf
UitgeverijTrans Tech Publications
Pagina's461-466
ISBN van geprinte versie978-0-87849-619-8
DOI's
StatusGepubliceerd - 1991

Publicatie series

NaamMaterials Science Forum
Volume65-66
ISSN van geprinte versie0255-5476

Citeer dit