Direct and highly sensitive measurement of defect-related absorption in amorphous silicon thin films by cavity ringdown spectroscopy

I.M.P. Aarts, B. Hoex, A.H.M. Smets, R.A.H. Engeln, W.M.M. Kessels, M.C.M. Sanden, van de

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

34 Citaten (Scopus)
120 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Direct and highly sensitive measurement of defect-related absorption in amorphous silicon thin films by cavity ringdown spectroscopy'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Fysica en Astronomie