Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra

C. Smit, R.A.C.M.M. Swaaij, van, H. Donker, A.M.H.N. Petit, W.M.M. Kessels, M.C.M. Sanden, van de

Onderzoeksoutput: Bijdrage aan tijdschriftTijdschriftartikelAcademicpeer review

337 Citaten (Scopus)
840 Downloads (Pure)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering