Delamination modeling of three-dimensional microelectronic systems

O. Sluis, van der, P.H.M. Timmermans, R.B.R. Silfhout, van, W.D. Driel, van, G.Q. Zhang

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)

Vingerafdruk

Duik in de onderzoeksthema's van 'Delamination modeling of three-dimensional microelectronic systems'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

Engineering en materiaalwetenschappen