Delamination in micro-electronic devices - towards interface engineering

O. Sluis, van der, S.P.M. Noijen, P.H.M. Timmermans, F. Fanicchia

Onderzoeksoutput: Hoofdstuk in Boek/Rapport/CongresprocedureConferentiebijdrageAcademicpeer review

Originele taal-2Engels
TitelCD-ROM Proceedings of the 6th European Congress on Computational Methods in Applied Sciences and Engineering (ECCOMAS 2012)
RedacteurenJ. Eberhardsteiner, H.J. Böhm, F.G. Rammerstorfer
Plaats van productieVienna, Austria
UitgeverijVienna University of Technology
ISBN van geprinte versie978-3-9502481-9-7
StatusGepubliceerd - 2012

Citeer dit